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                產品詳細頁
                接觸角測試儀

                接觸角測試儀

              1. 產品介紹:SL200系列接觸角測量儀(接觸角儀,接觸角測試儀)基于大移動平臺與模塊化設計理念,該設備支持自動進液、動態接觸角及界面張力測試,為工業質檢與研發提供精準數據支持。
                • 更新時間:2025-10-15
                • 產品型號:SL200系列
                • 廠商性質:生產廠家
                • 產品品牌:KINO
                • 產品廠地:上海市
                • 訪問次數:8716

                產品介紹

                SL200系列接觸角測量儀(接觸角儀,接觸角測試儀)是一款專為液晶、晶圓、半導體、硅片及光刻膠等精密材料表面清潔度與潤濕性分析設計的設備。基于大移動平臺與模塊化設計理念,該設備支持自動進液、動態接觸角及界面張力測試,為工業質檢與研發提供精準數據支持。


                核心技術優勢

                1. 大移動平臺設計

                  • 適配大尺寸樣品(如PCB板、IPAD顯示屏、觸摸屏)的清潔度與接觸角測量。

                  • 支持液晶、晶圓、半導體等精密材料的表面潤濕性評估。

                2. 高精度光學系統

                  • 工業級輪廓鏡頭:成像清晰,確保液滴輪廓精準識別。

                  • 石英玻璃柔光光源:均勻背景照明,提升圖像對比度。

                3. 智能化軟件系統(CAST™3.0)

                  • 動態接觸角分析:支持前進/后退角、滾動角及時間依賴性接觸角測量。

                  • 表面自由能計算:分析色散力、極性力、氫鍵力等分量,評估材料表面特性。

                  • 液-氣/液-液界面張力測試:基于懸滴法(Pendant Drop)實現精準測量。

                4. 自動進液系統

                  • 高精度液滴控制,適配微量樣品測試,減少試劑消耗。


                行業痛點解決方案

                • 表面清潔度檢測:通過接觸角與界面張力測試,快速評估液晶、晶圓、半導體等材料的表面污染物殘留。

                • 光刻膠潤濕性分析:優化光刻工藝中的涂布均勻性與附著力,提升制造良率。


                應用領域

                • 液晶顯示:評估屏幕表面清潔度與涂層潤濕性。

                • 半導體制造:晶圓、硅片表面污染物檢測與潤濕性分析。

                • 光刻膠研發:優化光刻膠涂布性能,提升工藝穩定性。

                • 觸摸屏質檢:表面清潔度與涂層附著力評估。


                SL200系列接觸角測量儀(接觸角儀,接觸角測試儀)技術優勢

                • 高精度控制:微米級定位精度,減少機械振動干擾。

                • 模塊化設計:支持功能擴展,適配多樣化測試需求。

                • 操作友好性:向導式軟件界面結合一鍵操作功能,降低使用門檻。

                 

                接觸角定義

                在固體水平平面上滴上一滴小液滴,在固體表面的固-液-氣三相交界點處,由氣-液界面和固-液界面兩切線將液相夾在其中時所形成的角度,稱為接觸角。

                 

                接觸角測量儀

                 

                SL200L系列接觸角測定儀產品特點與優勢


                行業痛點解決方案

                1. 頂視3D接觸角功能

                  • 用于評估液晶、晶圓、半導體等高精密材料表面結構與化學多樣性對潤濕性的影響,解決傳統方法無法精準分析微觀粗糙表面及復雜化學組成的難題。

                2. 力學鉑金板表面張力測試

                  • 通過高精度力學鉑金板法檢測硅片、光刻膠表面的有機污染物殘留,解決制造過程中污染物快速篩查的行業痛點。


                核心技術與配置

                1. 高精度控制系統
                • 交叉線性導軌技術

                  • 手動控制精度0.01mm,軟件控制精度0.5μm,確保晶圓、半導體等精密樣品的穩定測量。

                • 9維機械結構設計

                  • 2XYZ+3水平調整系統,協調樣品臺、相機、進樣系統運作,適配大尺寸顯示屏(如IPAD、觸摸屏)測試。

                • 納升級注射泵系統

                  • 液滴控制精度達0.02μL(可擴展至nL級),滿足光刻膠微量涂布測試需求。

                2. 專業化光學成像系統
                • 高景深工業鏡頭(0.35-4.5X放大倍率):

                  • 清晰捕捉液晶、硅片表面的微觀液滴形態,支持曲面校正技術分析凹凸面接觸角。

                • 高速攝像系統

                  • 德國原裝87幀/秒相機(可升級至1000幀/秒),動態記錄光刻膠潤濕過程。

                • 可調LED冷光源

                  • 避免液滴揮發干擾,確保光敏材料(如光刻膠)測試穩定性。

                3. 智能化分析軟件(CAST™2.0)
                • 動態接觸角分析

                  • 支持前進/后退角、滾動角及時間依賴性接觸角測量,適配半導體表面污染物動態吸附研究。

                • 表面自由能模型

                  • 12種算法(如Acid-base法)分析色散力、極性力,評估材料表面清潔度與涂層兼容性。

                • 液-液界面張力測試

                  • 基于Young-Laplace方程擬合,支持光刻膠與顯影液的界面行為分析。

                4. 擴展功能與兼容性
                • 模塊化進樣系統

                  • 兼容PTFE針管、細針管,適配高粘度光刻膠及疏水材料測試。

                • 標準化視頻模式

                  • 支持多品牌主機升級,數據可導出為Excel/BMP格式,滿足科研論文與工業報告需求。

                • 抗靜電設計

                  • 離子風技術消除晶圓、半導體測試中的靜電干擾,提升測值準確性。


                應用場景

                • 液晶顯示行業:屏幕表面清潔度與涂層潤濕性檢測。

                • 半導體制造:晶圓/硅片污染物篩查、光刻膠涂布均勻性評估。

                • 觸摸屏質檢:表面附著力與清潔度分析。

                • 光刻膠研發:優化配方潤濕性能,提升工藝良率。


                技術優勢

                • 精準適配高精密材料:專為微電子行業設計,解決表面結構復雜、污染物難檢測的痛點。

                • 全流程自動化:一鍵完成圖像捕獲、計算與數據保存,減少人為誤差。

                • 抗干擾設計:多層水平調整系統結合防靜電技術,確保環境下的測試穩定性。

                 

                接觸角測量儀

                接觸角測量儀

                附件:

                1、溫度控制裝置:

                包括(1)樣品溫度控制(2)測試液體溫度控制;

                這是兩個溫度控制系統,分別控制液體以及固體樣品的溫度。可單獨采購,也可以同時采購。

                →固體樣品溫度控制方式可選以下兩種溫度控制方式之一:

                (1)恒溫水槽控制:0-95℃,溫度誤差在0.1℃;

                (2)半導體加熱制冷:5-85℃,溫度誤差在0.5℃;

                (3)特殊溫度加熱系統:如200℃、400℃溫度控制要求可與我們確認。

                →液體溫度控制方式建議采用恒溫水槽的方式。

                2、高溫接觸角測試:最高實現1400、1700、1800、2000度接觸角測試;定制產品,需支付定金。

                3、真空環境裝置:實現真空或不同氣體環境下接觸角測試;定制產品,需支付定金。

                4、樣品槽:有效控制樣品的晃動以及溫度、光線等影響;定制產品,需支付定金。

                5、高溫界面張力測試:熔化的固體材料與空氣的界面張力測試,采用懸滴法或停滴法界面張力分析技術。定制產品,需支付定金。

                6、全系列針管與針頭

                包括: 25uL、100uL、500uL、1000uL高精度微量進樣器、以及聚四氟乙烯針頭、不銹鋼針頭(各種直徑)、塑料針頭、彎曲針頭等

                7、高精度雙通道軟件控制自動注射泵

                8、專用夾具:用于夾持纖維、薄膜、紙張等

                9、氣泡捕獲法用石英玻璃樣品槽

                10、振蕩滴(oscillating drop)測試模塊

                (1)采用高頻振蕩器以及閉環式振蕩控制系統,控制精度更高、控制方式更為靈活,可根據客戶需求選購不同振蕩頻率和振蕩幅度的振蕩器。

                序號

                振蕩幅度

                振蕩最高頻率

                1

                2uL

                100z

                2

                10uL

                100Hz

                3

                10uL

                60Hz

                4

                20uL

                60Hz

                (2)進樣針管可選:0.5uL、1uL、5uL、15uL、100uL、500uL、1000uL等。

                (3)振蕩波形包括:正弧波、余弧波、三角波、線性波、鋸齒波等,頻率在2KHz以內不衰減、不失真。

                 

                CAST2.0影像分析系統測試實圖示例

                 

                1、前進后退角分析實圖:

                 

                圖1 分析方法:曲線尺擬合法(圓擬合、spline擬合、廣義二次曲線擬合等)。

                前進角/后退角測試建議采購注射泵或蠕動泵。前進角/后退角形成的技術有兩種方式:(1)增加/減少液滴量,形成前進/后退角;(2)樣品臺傾斜,形成前進后退角。如上圖所示

                2 、非規則接觸角分析實圖:

                 

                圖中拍攝的是硅膠的實際效果圖,采用曲線尺擬合技術計算接觸角值。擬合因子90%以上。

                 

                圖2 分析方法:Spline曲線擬合法或Young-Laplace方程擬合法

                 


                特別聲明:

                1、以上圖片資料以及技術參數因設計而進行的更改,不再另行通知,以最新確認的產品資料為準。

                2、本公司保留一切權利。 

                3、阿莎®、RealDrop®、TrueDrop®、MicroDrop®、WBA®、ADSA®是上海梭倫的注冊商標。

                 



                 

                CAST®、阿莎®、ADSA®、TrueDrop®、RealDrop®、TheDrop®、MicroDrop®、LMCA®、Shsolon®、梭倫®為上海梭倫注冊商標。

                如上商標用于接觸角測量儀、表面張力儀、界面張力儀的商品或服務。侵權必究!

                 

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